该专利摘要揭示了一种先进的显示器缺陷检测技术，属于缺陷检测领域的革新，其核心技术在于：在高角度环形光源照射和内层聚焦模式下，运用工业相机捕捉待测显示器边框区域的高对比度第一缺陷图像。随后，通过分析该图像，准确判定边框区域的缺陷情况。
此项发明在保留原有AA区域缺陷检测的光学方案基础上，通过优化边框区域的检测流程，实现了自动化缺陷识别，极大提升了检测精度和效率。这种方法不仅有效避免了边框区域的缺陷漏检，还降低了对后续生产工序的不利影响，为显示器制造过程中的质量控制提供了有力保障。
这项专利的提出，标志着武汉精立电子与武汉精测电子在显示器缺陷检测技术上的突破，有望推动整个行业向更高水平的自动化与智能化迈进，进一步提高生产效率和产品质量。
